型號 | MT40 | MT60 | MT80 |
光學系統 | 無限遠色差校正光學系統 | ||
觀察筒 | 反像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節: 觀察筒 50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | 正像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | 正像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 |
反像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | 反像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | ||
目鏡 | 高眼點目鏡SWH10X-H/23mm,視度可調 | 高眼點大視野目鏡SWH10X-H/23mm,視度可調 | 高眼點大視野目鏡SWH10X-H/25mm,視度可調 |
物鏡 | 明暗場物鏡(5X、10X、20X、50X 、100X)(選配) | ||
明場物鏡(5X、10X、20X、50X 、100X)(選配) | |||
物鏡轉換器 | 手動明暗場五孔物鏡轉盤//電動明暗場5孔轉換器(帶DIC插槽),物理按鈕和軟體雙控. | ||
機架 上光源 | 反射用機架,低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程35mm,微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。內置100-240V寬電壓 系統,採用數字調光,具有光強設定與復位功能 | ||
載物台 | 4 英寸載物台,平臺面積310*240mm,移動行程:100mmX100mm 機械平臺,X、Y方向同軸調節 | 6 英寸平臺,平臺面積450*240mm,移動行程:158mmX158mm 機械平臺,X、Y方向同軸調節;含 快速移動裝置 | 8 英寸平臺,平臺面積525*330mm,移動行程:210mmX210mm 機械平臺,X、Y方向同軸調節;含快速移動裝置 |
聚光鏡 | 搖出式消色差聚光鏡(N.A.0.9) | ||
干涉片 | 諾曼爾斯基微分干涉片 | ||
反射照明器 | 明暗場反射照明器,帶可變孔徑光闌,視場光闌,中心可調,帶色片插槽,帶起偏鏡/檢偏鏡插槽 | ||
燈室 | 5W可調LED燈室,透、反射通用,預定中心 | 10W 可調 LED 燈室,透、反射通用,預定中心 | |
攝像介面 | 攝影攝像附件:0.65X,C型介面,可調焦(可選0.5X/1X) | ||
偏光組件 | 起偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板 | ||
Product
產品介紹
MT60 金相顯微鏡
MT60 金相顯微鏡
MT 系列含 4、6、8 英寸多種平臺,可適用不同尺寸的晶圓檢測。涵蓋明暗場、偏光、DIC等多種觀察方式,專業應用於半導體、FPD、電路 封裝、電路基板、材料、精密磨具等檢測領域。
採用了離合器驅動的手動XY載物台,平臺面積450mmX220mm,在反射光照明模式下,操作員可在150mmX150mm的範圍內移動載物台。搭載軟體,可電動控制物鏡轉盤切換倍數和軟體控制雙向聯控,提高了檢查精度和速度。各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善,可靈活進行系統組合與功能拓展。人機工程學設計,擁有堅實可靠的系統結構。
MT60L顯微鏡採用長工作距離複消色差APO物鏡,2X / 5X / 10X / 20X。(可選50X物鏡和100X物鏡)。超長的工作距離帶來更自由的操作空間。特別適合半導體探針,點墨,擦拭,清潔等工站使用。
MT-60BD 全新採用半複消技術,集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式,任何觀察下都能呈現清晰銳利的顯微圖像,可根據實際應用,進行功能選擇,是工業檢測的有效工具。 全新的作業系統機構,採用人機工程學設計,最大限度減輕操作者的使用疲勞,模組化的部件設計,可對系統功能進行自由組合,滿足工業檢測與 金相分析的專業領域需求。
MT60 金相顯微鏡
MT 系列含 4、6、8 英寸多種平臺,可適用不同尺寸的晶圓檢測。涵蓋明暗場、偏光、DIC等多種觀察方式,專業應用於半導體、FPD、電路 封裝、電路基板、材料、精密磨具等檢測領域。
採用了離合器驅動的手動XY載物台,平臺面積450mmX220mm,在反射光照明模式下,操作員可在150mmX150mm的範圍內移動載物台。搭載軟體,可電動控制物鏡轉盤切換倍數和軟體控制雙向聯控,提高了檢查精度和速度。各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善,可靈活進行系統組合與功能拓展。人機工程學設計,擁有堅實可靠的系統結構。
MT60L顯微鏡採用長工作距離複消色差APO物鏡,2X / 5X / 10X / 20X。(可選50X物鏡和100X物鏡)。超長的工作距離帶來更自由的操作空間。特別適合半導體探針,點墨,擦拭,清潔等工站使用。
MT-60BD 全新採用半複消技術,集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式,任何觀察下都能呈現清晰銳利的顯微圖像,可根據實際應用,進行功能選擇,是工業檢測的有效工具。 全新的作業系統機構,採用人機工程學設計,最大限度減輕操作者的使用疲勞,模組化的部件設計,可對系統功能進行自由組合,滿足工業檢測與 金相分析的專業領域需求。
MT 系列含 4、6、8 英寸多種平臺,可適用不同尺寸的晶圓檢測。涵蓋明暗場、偏光、DIC等多種觀察方式,專業應用於半導體、FPD、電路 封裝、電路基板、材料、精密磨具等檢測領域。
採用了離合器驅動的手動XY載物台,平臺面積450mmX220mm,在反射光照明模式下,操作員可在150mmX150mm的範圍內移動載物台。搭載軟體,可電動控制物鏡轉盤切換倍數和軟體控制雙向聯控,提高了檢查精度和速度。各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善,可靈活進行系統組合與功能拓展。人機工程學設計,擁有堅實可靠的系統結構。
MT60L顯微鏡採用長工作距離複消色差APO物鏡,2X / 5X / 10X / 20X。(可選50X物鏡和100X物鏡)。超長的工作距離帶來更自由的操作空間。特別適合半導體探針,點墨,擦拭,清潔等工站使用。
MT-60BD 全新採用半複消技術,集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式,任何觀察下都能呈現清晰銳利的顯微圖像,可根據實際應用,進行功能選擇,是工業檢測的有效工具。 全新的作業系統機構,採用人機工程學設計,最大限度減輕操作者的使用疲勞,模組化的部件設計,可對系統功能進行自由組合,滿足工業檢測與 金相分析的專業領域需求。
上傳日期 檔案名稱 檔案類型 檔案大小 2023/03/27 DRC-6736.dwg DWG檔 219KB 2022/09/15 MDRA-7032.pdf PDF檔 166KB
調焦支架組
移動台
光源
其他配件
型號 | MT40 | MT60 | MT80 |
光學系統 | 無限遠色差校正光學系統 | ||
觀察筒 | 反像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節: 觀察筒 50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | 正像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | 正像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 |
反像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | 反像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | ||
目鏡 | 高眼點目鏡SWH10X-H/23mm,視度可調 | 高眼點大視野目鏡SWH10X-H/23mm,視度可調 | 高眼點大視野目鏡SWH10X-H/25mm,視度可調 |
物鏡 | 明暗場物鏡(5X、10X、20X、50X 、100X)(選配) | ||
明場物鏡(5X、10X、20X、50X 、100X)(選配) | |||
物鏡轉換器 | 手動明暗場五孔物鏡轉盤//電動明暗場5孔轉換器(帶DIC插槽),物理按鈕和軟體雙控. | ||
機架 上光源 | 反射用機架,低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程35mm,微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。內置100-240V寬電壓 系統,採用數字調光,具有光強設定與復位功能 | ||
載物台 | 4 英寸載物台,平臺面積310*240mm,移動行程:100mmX100mm 機械平臺,X、Y方向同軸調節 | 6 英寸平臺,平臺面積450*240mm,移動行程:158mmX158mm 機械平臺,X、Y方向同軸調節;含 快速移動裝置 | 8 英寸平臺,平臺面積525*330mm,移動行程:210mmX210mm 機械平臺,X、Y方向同軸調節;含快速移動裝置 |
聚光鏡 | 搖出式消色差聚光鏡(N.A.0.9) | ||
干涉片 | 諾曼爾斯基微分干涉片 | ||
反射照明器 | 明暗場反射照明器,帶可變孔徑光闌,視場光闌,中心可調,帶色片插槽,帶起偏鏡/檢偏鏡插槽 | ||
燈室 | 5W可調LED燈室,透、反射通用,預定中心 | 10W 可調 LED 燈室,透、反射通用,預定中心 | |
攝像介面 | 攝影攝像附件:0.65X,C型介面,可調焦(可選0.5X/1X) | ||
偏光組件 | 起偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板 | ||
上傳日期 檔案名稱 檔案類型 檔案大小 2023/03/27 DRC-6736.dwg DWG檔 219KB 2022/09/15 MDRA-7032.pdf PDF檔 166KB
調焦支架組
移動台
光源
其他配件


